/
/
Tự động phát hiện lỗi đóng gói vi mạch thông qua hệ thống MES

Tự động phát hiện lỗi đóng gói vi mạch thông qua hệ thống MES

Nội dung

loi-dong-goi-vi-mach-thumb

Sự phát triển mạnh mẽ của công nghệ và điện tử đòi hỏi cấu trúc vi mạch phải ngày càng nhỏ gọn nhưng vẫn đảm bảo mật độ bóng bán dẫn cực cao. Xu hướng này thúc đẩy ngành linh kiện điện tử tăng mật độ chip trong các cấu trúc đóng gói tiên tiến, nhưng đồng thời cũng tạo ra những thách thức chưa từng có cho quy trình lắp ráp và kiểm thử. Để nâng cao hiệu suất và duy trì khả năng cạnh tranh các doanh nghiệp sản xuất linh kiện điện tử buộc phải chuyển đổi từ kiểm tra chất lượng hậu kỳ thụ động sang hệ thống tự động hóa kiểm soát chất lượng trực tuyến và Hệ thống Điều hành Sản xuất (MES) sẽ đóng vai trò là hạt nhân cốt lõi để hiện thực hóa mục tiêu này.

Các lỗi vi mô thường gặp trong công đoạn đóng gói vi mạch

loi-dong-goi-vi-mach-2

Sự khác biệt về đặc tính cơ nhiệt giữa các loại vật liệu khác nhau như chip silicon, nhựa đúc bảo vệ (EMC), kim loại dẫn điện và tấm nền hữu cơ (substrate) là nguyên nhân hàng đầu gây ra các sự cố hư hỏng trong quá trình đóng gói. Các lỗi vi mô phổ biến nhất tại xưởng sản xuất bao gồm: 

  • Hiện tượng cong vênh vật liệu và nứt chip: Lỗi này xảy ra chủ yếu do sự chênh lệch về mức độ giãn nở nhiệt giữa các lớp vật liệu cấu thành vi mạch khi đi qua lò hàn đối lưu (reflow). Trong khi chip silicon giãn nở vì nhiệt rất ít, thì tấm nền hữu cơ và lớp vỏ nhựa đúc bảo vệ lại giãn nở nhiều hơn đáng kể. Sự co ngót không đồng đều này tạo ra một lực ép nội bộ cực lớn trong quá trình làm nguội, khiến cấu trúc vỏ bọc bị biến dạng, cong vênh. Khi lực ép này vượt quá giới hạn chịu đựng của silicon, các vết rạn nhỏ hình thành từ công đoạn mài mỏng hoặc cắt chip trước đó sẽ lan rộng ra, dẫn đến hiện tượng nứt vỡ chip hoàn toàn. 
  • Hiện tượng bong tách lớp và hiệu ứng bỏng ngô: Tình trạng các lớp vật liệu bị hở, tách rời nhau tại bề mặt tiếp xúc giữa chip với tấm nền (hoặc giữa lớp nhựa bảo vệ với khung kim loại) bắt nguồn từ độ bám dính kém do dính bẩn hữu cơ hoặc do nhựa bị co rút khi làm nguội. Khi vi mạch được lưu kho hoặc vận hành trong môi trường ẩm ướt, hơi nước sẽ thâm nhập qua các khe hở siêu nhỏ của vỏ nhựa và tích tụ lại tại những vị trí bị hở này. Khi đi qua lò hàn reflow ở nhiệt độ cao, lượng nước tích tụ lập tức hóa hơi khiến áp suất tăng lên đột ngột, làm nứt vỡ bung phát lớp vỏ bọc bên ngoài. 
  • Hiện tượng xô lệch dây dẫn và đứt mối hàn: Trong công đoạn bơm nhựa đúc để làm vỏ bảo vệ, dòng nhựa lỏng đậm đặc chuyển động sẽ tạo ra một lực đẩy rất lớn lên các dây dẫn vàng hoặc đồng siêu mảnh kết nối giữa chip và khung chân. Nếu kỹ thuật viên không kiểm soát tốt tốc độ dòng chảy hoặc áp suất bơm nhựa, lực kéo này sẽ làm cong hoặc xô lệch dây dẫn, khiến các sợi dây nằm sát nhau chạm vào nhau gây đoản mạch bên trong. Bên cạnh đó, lỗi đứt mối hàn thường xảy ra khi điểm tiếp xúc giữa dây dẫn và tấm đệm bị bong ra do lực ép hoặc năng lượng sóng siêu âm lúc bấm đầu dây không đạt chuẩn.
  • Hiện tượng bọt khí và thiếu thiếc hàn: Lỗi rỗng chân hàn (voiding) bên trong các mối hàn hạt mảng BGA hình thành do khí bị kẹt lại khi thiếc đang nóng chảy ở lò reflow. Nguyên nhân chủ yếu là chất trợ dung hàn (flux) chưa kịp bay hơi hết hoặc do tốc độ gia nhiệt quá nhanh khiến khí không kịp thoát ra ngoài. Các bong bóng khí này làm giảm diện tích tiếp xúc điện, giảm khả năng tản nhiệt, đồng thời khiến mối hàn dễ bị nứt gãy sau một thời gian máy chạy và chịu thay đổi nhiệt độ liên tục. Ngược lại, lỗi thiếu thiếc hàn lại liên quan trực tiếp đến độ chính xác của máy in kem hàn hoặc do bột thiếc bị ẩm làm giảm độ bám dính.

Hạn chế của phương pháp kiểm tra thủ công trong kiểm soát chất lượng

Việc duy trì các phương pháp kiểm tra thủ công bằng mắt người hoặc chỉ sử dụng các dòng camera 2D thông thường hiện đang bộc lộ những lỗ hổng lớn tại xưởng sản xuất. Các lỗi hỏng hóc nâng cao, đặc biệt là tình trạng rỗng chân hàn bên trong mối hàn hạt mảng BGA hay cấu trúc các lớp chip xếp chồng lên nhau, đều nằm khuất hoàn toàn bên dưới lớp vỏ nhựa bảo vệ và tấm nền. Do đó, các công cụ nhìn ngoại quan bề mặt thông thường hoàn toàn bất lực và không thể phát hiện được.

Hơn thế nữa, quy trình kiểm tra truyền thống thường hoạt động theo lối tư duy cũ, tức là chỉ phân loại sản phẩm Đạt hoặc Lỗi sau khi công đoạn đóng gói đã hoàn thành xong. Cách làm này gây ra những thiệt hại rất lớn về chi phí cho nhà máy theo “nguyên lý số nhân” dọc theo dây chuyền lắp ráp:

  • Nếu phát hiện lỗi ngay tại công đoạn in kem hàn ban đầu, chi phí sửa sai hầu như bằng không vì kỹ thuật viên chỉ cần lau sạch lớp kem hàn lỗi trên tấm nền và tiến hành in lại từ đầu. 
  • Nếu để lỗi lọt qua lò hàn reflow và chỉ phát hiện ở khâu kiểm tra thành phẩm cuối dây chuyền, chi phí khắc phục có thể tăng lên gấp hàng nghìn lần do đòi hỏi quy trình phức tạp để rã hàn, gỡ bỏ linh kiện hư hỏng và tiến hành hàn lại, làm lãng phí cả vật tư lẫn thời gian chạy máy.
  • Nguy hiểm nhất là khi các điểm yếu cấu trúc này thoát ra đến tận tay khách hàng và bộc phát lỗi trong quá trình sử dụng thực tế. Lúc này, chi phí đền bù, thu hồi hàng lỗi và tổn thất về uy tín thương hiệu của nhà máy là không thể đo đếm được.

Lộ trình 3 bước thiết lập mạng lưới thiết bị phát hiện lỗi tại dây chuyền

loi-dong-goi-vi-mach-1

Để không bị rơi vào thế bị động trước các lỗi vi mô nằm ẩn sâu bên trong, nhà máy cần chuyển dịch từ việc kiểm tra sản phẩm sau khi đã làm xong sang xây dựng hệ thống phòng ngừa trực tuyến. Quá trình này được thực hiện thông qua 3 bước lắp đặt các thiết bị đo đạc tự động ngay trên dây chuyền:

Bước 1: Triển khai máy kiểm tra kem hàn 3D (3D SPI) ngay sau công đoạn in thiếc hàn

Thiết bị này được bố trí ngay sau máy in kem hàn. Bằng cách sử dụng các chùm tia laser và camera quét đa góc, máy sẽ đo lường chính xác các thông số thực tế của từng điểm kem hàn bao gồm: thể tích khối thiếc, chiều cao, diện tích phủ và độ lệch tâm so với tấm đệm pad trên bo mạch. Khi được kết nối vòng lặp kín với máy in, dữ liệu lỗi từ máy 3D SPI sẽ tự động phát lệnh điều chỉnh áp lực dao gạt và tốc độ tách tấm stencil của máy in, giúp xử lý triệt để nguồn gốc của hơn 60% lỗi hàn ngay từ cửa ngõ ban đầu.

Bước 2: Tích hợp máy kiểm tra quang học tự động 3D (3D AOI) sau công đoạn đính chip

Máy 3D AOI giải quyết hoàn toàn nhược điểm của các dòng camera 2D thế hệ cũ nhờ khả năng đo được chiều cao (trục Z) của linh kiện. Hệ thống sử dụng các cụm đèn chiếu vân sáng thông minh từ nhiều hướng để triệt tiêu các góc tối, góc khuất. Trong khâu hàn dây dẫn, máy 3D AOI giúp kỹ thuật viên phát hiện ngay lập tức các lỗi xô lệch dây dẫn, đo chính xác độ cao vòng vòm của sợi dây và định vị các điểm bị đứt gãy mối nối ngay sau khi bấm đầu dây.

Bước 3: Áp dụng máy kiểm tra tia X tự động (3D AXI) cho các mối hàn bị che khuất

Đối với các kiểu đóng gói hiện đại có chân hàn bị che khuất hoàn toàn (như chip chân bụng BGA hay chip xếp chồng), máy 3D AXI sử dụng chùm tia X xuyên qua vỏ nhựa để chụp lại cấu trúc bên trong. Bằng công nghệ quét cắt lớp tương tự như máy chụp CT trong y tế, thiết bị này chỉ cần quét một lần là có thể dựng lại hình ảnh không gian 3D của toàn bộ các lớp mạch. Từ đó, máy tự động tính toán ra tỷ lệ phần trăm bọt khí bị kẹt trong từng bóng hàn BGA để đảm bảo mối nối đạt tiêu chuẩn độ bền cơ học.

Cơ chế tự động hóa quy trình phát hiện và xử lý lỗi của hệ thống MES

loi-dong-goi-vi-mach-3

Mạng lưới máy móc đo lường 3D và tia X chỉ phát huy tối đa hiệu quả khi toàn bộ dữ liệu được kết nối và xử lý tập trung bằng phần mềm Điều hành Sản xuất MES. Hệ thống này đóng vai trò như một cơ quan đầu não điều phối và tự động đưa ra phương án xử lý tức thời khi dây chuyền xảy ra sự cố.

  • Kết nối và thu thập dữ liệu máy móc tự động: Thay vì để kỹ thuật viên phải đi ghi chép thủ công từng máy, hệ thống MES sử dụng các cổng giao thức kết nối tiêu chuẩn của ngành bán dẫn để tự động bắt mạch máy móc theo thời gian thực. Phần mềm sẽ tự động gom toàn bộ thông tin về trạng thái chạy/dừng máy, số lượng hàng hỏng, mã công thức vận hành, cùng các thông số kỹ thuật thực tế như nhiệt độ lò hàn, áp lực bơm nhựa từ tất cả các thiết bị trên dây chuyền.
  • Giám sát quy trình bằng biểu đồ thống kê trực tuyến: Toàn bộ số liệu đo đạc kích thước, chiều cao thực tế từ các máy 3D SPI, AOI và AXI được truyền thẳng về phần mềm MES. Hệ thống sẽ tự động tính toán năng lực sản xuất của máy và vẽ lên các biểu đồ kiểm soát. Áp dụng các quy tắc phân tích thống kê tiêu chuẩn, MES sẽ tự động phát hiện sớm các xu hướng bất thường, ví dụ như việc nhiệt độ lò hàn đang bị trôi dần ra khỏi vùng an toàn hoặc dao gạt kem hàn bắt đầu bị mòn để cảnh báo cho kỹ sư xử lý trước khi sản phẩm bị hỏng thực tế.
  • Tự động ra lệnh khóa máy và kích hoạt kịch bản xử lý sự cố: Ngay khi phát hiện các thông số vận hành vượt quá ranh giới an toàn cho phép, hệ thống MES sẽ lập tức gửi lệnh khóa máy hoặc tạm dừng lô hàng tự động để ngăn không cho phế phẩm tiếp tục phát sinh. Đồng thời, phần mềm tự động mở một phiếu báo lỗi số hóa trên màn hình, hướng dẫn chi tiết các bước kiểm tra, sửa chữa cho kỹ sư tại hiện trường. Lô hàng bị lỗi sẽ bị gắn trạng thái khóa và chỉ những người có thẩm quyền bộ phận chất lượng mới có thể bấm lệnh giải phóng sau khi đã xử lý xong triệt để nguyên nhân gốc rễ.
  • Tự động hóa quy trình bỏ qua chip lỗi (Skip Die): Ở khâu đo điện ban đầu, máy kiểm tra sẽ xác định chính xác tọa độ của từng miếng chip đạt chuẩn và chip bị hỏng trên phiến wafer, sau đó xuất ra một file bản đồ điện tử. Hệ thống MES sẽ tự động lấy file bản đồ này và truyền xuống máy đính chip. Nhờ đó, máy đính chip tự động đọc hiểu tọa độ để thực hiện lệnh chỉ gắp những con chip đạt chất lượng đưa vào bọc vỏ đóng gói và tự động bỏ qua các con chip lỗi đã được đánh dấu từ trước. Quy trình tự động này giúp tăng tốc độ gắp đặt và loại bỏ hoàn toàn rủi ro đóng gói nhầm chip hỏng do yếu tố con người.
  • Truy xuất nguồn gốc ngược tìm nguyên nhân gốc rễ: Khi có bất kỳ phản hồi nào từ khách hàng về một con chip bị hỏng hóc bộc phát muộn, hệ thống MES cho phép các kỹ sư lật ngược lại toàn bộ lịch sử sản xuất của chính con chip đó. Chỉ với một thao tác tra cứu, MES sẽ chỉ ra chính xác sản phẩm được làm từ lô vật tư nào, chạy trên máy nào, nhiệt độ lò hàn tại thời điểm đó là bao nhiêu, và hình ảnh quét ngoại quan lúc xuất xưởng ra sao.

Giải pháp quản trị chất lượng toàn diện với hệ sinh thái DEHA:MES và DQC

Để giải quyết bài toán tối ưu quy trình sản xuất và tự động hóa khâu kiểm soát lỗi cho các nhà máy tại Việt Nam, giải pháp Hệ thống quản lý điều hành sản xuất MES của DEHA Digital Solutions cung cấp một bộ công cụ quản trị chất lượng toàn diện và khép kín. 

Quản lý dữ liệu chất lượng tập trung: Phần mềm tự động thiết lập các ranh giới kiểm tra chặt chẽ xuyên suốt từ khâu kiểm tra nguyên vật liệu đầu vào, giám sát các công đoạn đóng gói trên dây chuyền, cho đến khâu đánh giá thành phẩm đầu ra. Toàn bộ dữ liệu đo lường từ mạng lưới máy 3D SPI, AOI và AXI được đồng bộ về một nền tảng duy nhất, giúp nhà quản lý theo dõi sát sao tỷ lệ hàng đạt tiêu chuẩn mà không cần ghi chép thủ công 

  • Tích hợp linh hoạt với giải pháp camera AI bổ trợ: Nhằm tối đa hóa khả năng phát hiện lỗi ngoại quan, hệ thống DEHA:MES cho phép kết nối trực tiếp với giải pháp thị giác máy tính thông minh DQC. Khi kết hợp với giải pháp thị giác máy tính thông minh ứng dụng AI thế hệ mới, hệ thống đạt độ chính xác phát hiện lỗi ngoại quan vượt mức 99%. DQC tự động bao phủ việc kiểm tra hình dạng cấu trúc (linh kiện lắp lệch hướng, sai vị trí), hình dạng bề mặt (vết xước siêu nhỏ, nứt vỡ bề mặt chip) và độ hoàn thiện sản phẩm (lỗi ba-via phát sinh sau cắt gọt, điểm lồi lõm trên vỏ đúc nhựa bảo vệ). Hệ thống DQC dễ dàng kết hợp với các cơ cấu chấp hành vật lý như cánh tay robot hoặc bộ gạt phế phẩm để tự động loại bỏ các sản phẩm lỗi ra khỏi băng tải mà không cần dừng máy.
  • Kích hoạt kịch bản phản ứng khép kín: Ngay khi nhận được tín hiệu báo lỗi từ hệ thống thiết bị đo hoặc camera AI bổ trợ gửi về, hệ thống DEHA:MES sẽ lập tức xử lý thông tin để kích hoạt lệnh khóa máy tự động, cách ly lô hàng lỗi, đồng thời phối hợp với các cơ cấu vật lý như bộ gạt phế phẩm để gạt bỏ sản phẩm lỗi ra khỏi băng tải.
  • Hỗ trợ truy xuất nguồn gốc đạt chuẩn quốc tế: Hệ thống tự động lưu trữ và số hóa toàn bộ lịch sử biến động thông số quy trình và lịch sử thiết bị. Điều này giúp các nhà máy dễ dàng thực hiện quy trình truy xuất nguồn gốc ngược khi có sự cố bộc phát muộn, đồng thời đáp ứng đầy đủ các tiêu chuẩn kiểm định nghiêm ngặt của ngành công nghiệp ô tô hoặc y tế.

Kiểm soát lỗi đóng gói vi mạch là một bài toán quản trị hệ thống toàn diện, không thể xử lý triệt để bằng các giải pháp kỹ thuật rời rạc hay kiểm tra thủ công sau sản xuất. Việc kết hợp đồng bộ mạng lưới thiết bị đo 3D cùng nền tảng điều hành thông minh của chính là giải pháp cốt lõi để nhà máy chuyển dịch sang mô hình phòng thủ chủ động. Quy trình này giúp nâng cao tỷ lệ thành phẩm đạt chuẩn, tối ưu hiệu suất thiết bị và hạ thấp tối đa tỷ lệ hàng lỗi, từ đó bảo vệ uy tín thương hiệu vững chắc trên thị trường.

Chia sẻ
Bạn cũng có thể thích

Ở lại một lúc và đọc thêm bài viết như thế này

Thư viện tài liệu miễn phí
Top tài liệu được tải nhiều
Dự án tiêu biểu

Gửi liên hệ thành công!

Xin cảm ơn Anh/Chị đã để lại thông tin. DEHA Digital Solutions sẽ liên hệ với Anh/Chị trong thời gian sớm nhất!